ГОСТ 23089.7-83

Все документы, представленные в каталоге, не являются их официальным изданием и предназначены исключительно для ознакомительных целей. Электронные копии этих документов могут распространяться без всяких ограничений.
Вы можете размещать информацию с этого сайта на любом другом сайте без каких-либо ограничений.

Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей


Обозначение стандарта:	ГОСТ 23089.7-83

Статус стандарта:	действующий

Название рус.:	Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей

Название англ.:	Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf

Дата введения в действие:	01.01.1984

Область и условия применения:	Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля

Список изменений:	№0 от --1988-06-28 (рег. --1988-06-28) «Срок действия продлен»

	c=&f2=3&f1=II001&l='>ОКС Общероссийский классификатор стандартов c=&f2=3&f1=II001031&l='>31 ЭЛЕКТРОНИКА c=&f2=3&f1=II001031200&l='>31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры Микропроцессоры см. 35.160 c=&f2=3&f1=II002&l='>КГС Классификатор государственных стандартов c=&f2=3&f1=II002019&l='>Э Электронная техника, радиоэлектроника и связь c=&f2=3&f1=II002019002&l='>Э2 Элементы радиоэлектронной аппаратуры c=&f2=3&f1=II002019002009&l='>Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка